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            ST-20掌上型方塊電阻測試儀
            
         
            
          瀏覽次數：1256更新日期：2020-05-26 
         
            
         
            ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
             
            ◆ 特點：
            1
            		 采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定
            2
            		 低功耗
            3
            		 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示
            4
            		 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
            5
            		 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
            6
            		 探頭帶抗靜電模塊
             
            ◆ 技術指標：
             
            測量范圍
            		基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
            擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)
            測量不確定度
            		≤5%
            探針規格
            		 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
            恒流源
            		 測量過程誤差：≤±0.8%
            電源
            		 9V疊層電池1節
            
         
       
             
     
            
     
            
 
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